Mikroskop AM7915MZTL wchodzi w skład asortymentu produkcyjnego charakteryzującego się zwiększoną odległością roboczą od obiektu - Long Working Distance (LWD) i zakresem powiększeń od 10 – 140x, i ma szeroki zakres zastosowań tam, gdzie jest wymagana znaczna odległość robocza od badanego obiektu lub rozbudowane pole widzenia.
Z funkcją Rozszerzonego Zakresu Dynamicznego (EDR) ciemniejsze bądź jaśniejsze obszary na obiekcie mogą być ujawnione przez nakładane obrazy o różnym poziomie ekspozycji. Funkcja Rozszerzonej Głębi Ostrości (EDOF) automatycznie nakłada obrazy o różnych poziomach ostrości, aby poprawić głębię ostrości na szorstkich lub nierównych powierzchniach. Funkcja AMR jest szczególnie ważna wtedy, gdy funkcje pomiarowe są używane często. Ze względu na wbudowany filtr polaryzacyjny ten model nadaje się idealnie do pracy z błyszczącymi lub odblaskowymi obiektami, takimi jak metal, tworzywa sztuczne, szkło, biżuteria, elementy elektroniki, itp.
Główne cechy AM7915MZTL to: |